加工・計測・分析 偏光特性測定機|株式会社 ティー・イー・エム 加工・計測・分析 偏光特性測定機 HOME製品情報加工・計測・分析偏光特性測定機 偏光フィルム等のサンプルを小型ステージで3次元に角度を振って透過光を分光測定します。透過光測定は、光源の光がサンプルを透過して分光器に入ります。そこで可視光領域+近赤外領域(オプションMAX1650nm)を測定します。測定した数値はソフトウェア上でフィルムの位相差、偏光板のパラメータ、分光特性の測定データとして生成されます。 マルチチャンネル分光型偏光解析システム OPTIPRO-MCS 加工・計測・分析(偏光特性測定機) シンテック株式会社 可動ステージを利用して対象物の角度を振って、角度毎に分光器を用いて透過測定を行うソフトウェアと装置一式のシステムです。フィルム、ガラス板、透過性のあるフィルムもしくは板状の材料などの位相差測定、偏光パラメータ、分光特性を解析することができます。 1 製品カテゴリ一覧に戻る